Término solicitado: KEITH BEDDOW, JOHN^RED./(22)
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| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Particle characterization in technology |
| Autor: | Keith Beddow, John. ed. |
| Título Ser./Col.: | CRC series on fine particle science and technology; Uniscience series on fine particle science and technology |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Boca Raton. US. CRC Press. 1986. |
| Pág./Vol.: | 2v. |
| Notas: | V. 1: Application and microanalysis - 246 p.- V. 2: Morphological analysis - 265 p. . |
| Descriptores: | Partículas; Granulometría; Microanálisis |
| Ubicación: | 620.168.3/P2583 |
| Disponibilidad: | INTI-Córdoba |
Fin
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